GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1电工电子产品环境试验第2部分

前  言

GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1电工电子产品环境试验第2部分 GB/T 2423.1是GB/T 2423棕准的第1部分.GB/T 2423柝准的俎成部分見賚料性附彖NA.本部分等同采用IEC 60068-2-1 ,2007《坏境斌驗第2-1 部分。試驗試驗 A:低温)(英文版).本部分与IEC 60068-2-1 2007相比,主要做了下列蝓髯性修改s

-本部分的名称改カ《屯工屯子戸品珎境式羲 第2部分。試殺方怯 武驗A;低温》;“本杯准”一同改カ“本部分”,

一 刪除了IEC 60068-2-1 2007前言;

-刪除了IEC60068-2-1,2007引言,將其内容特化カ増加的賚料性附彖NB的内容,一増加了 資料性附桑“GB/T 2423柝准的組成部分”(見附彖NA)

一-増加了資料性附粂“試臉Ar低温和試驗B。高温的分炎代号小写字母之甸的美系”(見附彖

NB) s

-劃除了第1章第1段中的“対于非敞熱試驗祥品,”I– -第1章中最后両段的内容移到4.1中;

-4. 3柝題“非斂熱試驗祥品”改カ“非散熱試驗祥品的試臉”;

-6.2最后一段原文カ正文,本部分改カ注。

カ清晰起見，上述慘改已在正文相座位置加了脚注.

本部分代替GB/T 2423. 12001《屯工屯子*品坏境武驗第 2部分·試驗方法武驗 A;低温》，与之相比,主要変化如下，

-刪除了試臉Aa,非散熱試驗祥品温度突変的低温式驗I-刪除了附彖A.附桑B、附彖C、附彖D、附彖E,

-増加了式驗Ae散熱試驗祥品温度漸変的低温試驗一試驗祥品在整↑武驗辻程通屯.本部分的附彖NA、附彖NBカ賚料性附彖.

本部分由全国屯工屯子品坏境条件与坏境試驗怺准化技木委員会(SAC/TC 8)提出并日ロ.本部分由广州屯器科学研究院負責起草。本部分主要起草人z張志勇.

本部分所代替柝准的万次版本爰布情况カ」

-GB/T 2423. 1一-1981、GB/T 2423. 1- -1989、GB/T 2423. l-2001.
电工电子产品环境试验
第2部分:试验方法试验 A:低温

1范围
GB/T2423的本部分规定的低温试验适用于非散热和散热试验样品。试验Ab和试验Ad与早期版本无实质性的差异”,增加试验Ae的目的主要是检测那些要求在整个试验过程包括降温调节期间都要通电运行的设备。
本低温试验的目的仅限于用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输或贮存的能力。本低温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力,在这种情况下,应采用GB/T 2423. 22.
本低温试验方法细分为以下几种:
-非散热试验样品低温试验:●试验Ab,温度渐变。散热试验样品低温试验:●试验Ad,温度渐变;
●试验 Ae,温度渐变,试验样品在整个试验过程通电。
本部分给出的试验方法通常用于试验期间能达到温度稳定的试验样品.

2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T2423的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注期的引用文件 ,其最新版本适用于本部分。
GB/T 2421电工电子产 品环境试验第1 部分:总则(GB/T 2421- -1999 ,idt IEC 60068-1:1988)GB/T 2422电工电子产 品环境试验术语(GB/T 2422- 1995,eqv IEC 60068-5-2: 1990)
GB/T 2423.22电工电子产 品环境试验第2 部分:试验方法试验N:温度变化(GB/T 2423.22-2002 ,IEC 60068-2-14 :1984 ,IDT)
GB/T 2424.1电工电子产 品环境试验高 温低温试验导则(GB/T 2424. 1- -2005 , IEC 60068-3-1:1974 ,IDT)
GB/T 2424.1电工电子产 品环境试验高 温低温试验导则(GB/T 2424. 1- -2005, IEC 60068-3-1:1974,IDT)

GB/T 2424.5电工电子产品环境试验温 度试验箱性能确认(GB/T 2424. 5- 2006, IEC 60068-3-5:2001 ,IDT)

GB/T 2424. 7电工电子产 品环境试验试验 A和试验B(带负载)用温度试验箱的测量(GB/T 2424. 7- -2006 , IEC 60068-3-7: 2001 ,IDT)

IEC 60721(所有部分)环境条件分级

3术语和定义

GB/T 2422确立的以及下列术语和定义适用于本部分。

1) IEC 60068-2-1:2007原文在句前有“对于非散热试验样品,”
3.1

工作空间低气流速度low air velocity in the working space

指工作空间的调节气流速度,能维持设定的条件,但也足够低,以致试验样品上任意点的温度不会由于空气循环的影响而降低5 K以上(如果可能,不大于0.5 m/s)。3.2

工作空间高气流速度high air velocity in the working space

指工作空间的调节气流速度,为了维持设定的条件,同时使得试验样品上任意点的温度由于空气循环的影响而降低5 K以上。

4非散热试验样品与败热试验样晶试验方法应用对比

4.1 总则

温度试验箱的制造和确认按照GB/T 2424.5和GB/T 2424.7的规定进行。”高温和低温试验导则见GB/T 2424. 1,总则见GB/T 2421.”

只有在以下情况下,才认为试验样品是做热的:当温度达到稳定时(见GB/T 2421中相应内容),在自由空气的条件下(例如,低气流速度循环)测量的试验样品表面最热点的温度超过试验样品周围空气温度5K以上。当相关规范要求进行贮存或运输试验.或未指定在试验期间施加负载,低温试验Ab是适用的。

4.2工作空间是高 气流速度或是低气流速度的确定

在测量和试验的标准环境条件下(见GB/T 2421),以及气流速度<0.2 m/s,按照待试验的低温条件下的规定给试验样品通电或加电气负载.

当试验样晶的温度达到稳定,应使用合适的监测装暨测量试验样品上或其周围若干个有代表性的位置的温度。之后,每一个位置的温开应予以记录。

开启试验箱的通风装量使空气循环.当温度达到稳定时,重新测量上述位置处的温度。如果此次测得的温度与上次无空气流动时测得的温度相差超过5 K(或相关规范规定的其他值),应在检测报告中记录这些温度值,并且认为该试验箱具有高气流速度循环。然后给试验样品断电,并去掉任何负载条件.

4.3非 散热试验样晶的试验

在温度渐变试验Ab中,试验样品放入处于试验室温度的试验箱中,然后慢慢降低试验箱中温度，防止由于温度改变而对试验样品产生有害作用。建议采用高气流速度循环,因为这样可以减少达到温度稳定所需要的时间。
4.4散热试验样晶 的试验”

试验Ad和试验Ae描述了散热试验样品在低气流速度循环下的试验程序。这允许试验样品的局部发热点在其内部扩展的情况,类似于安装后的产品在应用中发生的情况。4.5温度监控

应使用温度传感器来测量试验箱里的空气温度,温度传感器的位置离试验样品的距高应确保其受热扩散的影响可忽略不计。应适当注意以避免热辐射影响这些测量,更多信息见GB/T 2424. 5.4.6 包装

对于贮存和运输试验,设备可以带包装进行试验。然而,由于本部分规定的低温试验是稳态试验，设备最終将稳定在试验箱温度，所以,应去掉包装进行试验,除非相关规范要求带包装,或者发热元件是

2)该段在IEC 60068-2-1 ,2007原文中位于第1章。3) 该段在IEC 6068-2-1 ,2007原文中位于第1章.4) TEC 60068-2-1:2007原文为“教势试妆样品”.
与包装合为- -体的。4.7  图示
为了便于试验方法的选择,图1给出了几种不同试验方法的图示。

5试验描述

5.1 总则

试验Ab.试验Ad和试验Ae是相似的,差异见5.2.2.5.3.2和5.4.2,从第6章开始的其他部分是这些试验共同的。试验箱内的温度变化速率不应超过1 K/min(不超过5 min时间的平均值)。相关规范应规定试验样品试验时的功能要求。

应注意试验样品的任何冷却装置要符合相关规范的要求。5.2试验 Ab:非散热试验样品温度渐变的低温试验5.2.1目的

本试验方法用来进行非散热试验样品的低温试验,试验样品在低温条件下放置足够长时间以达到温度稳定。5.2.2概述

将试验样品放人温度为试验室温度的试验箱中,然后将温度调节到符合相关规范规定的严酷等级温度。当试验样品温度达到稳定后,在该条件下暴露到规定的持续时间。对于试验时需要通电运行的试验样品(即使它们不属于散热试验样品),应在试验样品温度达到稳定后通电,根据需要进行功能检测。这种情况下,可能还需要–段时间达到温度稳定,然后试验样品在该低温条件下暴露到相关规范规定的持续时间.

试验样品通常在非工作状态下进行试验.本试验通常采用高气流速度循环。

5.3试验Ad:散热试验样品温度渐变的低温试验一试验样品在温度开始稳定后通电5.3.1目的

本试验方法用来进行散热试验样品的低温试验,试验样品在低温条件下放置足够长时间以达到温度稳定。

5.3.2概述

如果需要,可通过试验确定试验箱能否满足低气流速度的要求。将试验样品放人温度为试验室温度的试验箱中,然后将温度调节到符合相关规范规定的严酷等级温度。

给试验样品通电或加电负载，检查试验样品以确定其功能是否符合相关规范的要求。试验样品应按照相关规范规定的工作循环和负载条件(如可行时)处于运行状态.

当试验样品的温度达到稳定后,在该条件下暴闢到相关规范规定的持续时间。本试验通常采用低气流速度循环。

5.4试验Ae:散热试验样晶温度渐变的低温试验一试验样品在整个试验过程通电
5.4.1 目的

本试验方法用来进行傲热试验样品的低温试验,试验样品在低温条件下放置足够长时间以达到温度稳定,并且要求试验样品在整个试验过程中通电.
5.4.2概述

如果衢要,可通过试验确定试验籍能否满足低气流速度的要求。将试验样品放人温度为试验室温度的试验箱中,给试验样品通电并根据需要进行功能检测(见5.4. 3)。

然后将温度调节到符合相关规范规定的严酷等级温度。当试验样品的温度达到稳定后,在该条件下暴露到规定的持续时间。

本试验通常采用低气流速度循环.
5.4.3给试验样 品通电

然后给试验样品通电或加电负载,检查试验样品以确定其功能是否符合相关规范的要求。试验样品应按照相关规范规定的工作循环和负载条件(如可行时)处于运行状态。

6试验程序

6.1性能确认

GB/T2424.5给出了温度试验箱的性能确认指南。GB/T2424.1给出了试验A和试验B的一般操作指南.

与散热试验样品的尺寸和数量相比,试验箱应该足够大。
6.2工作空间

试验样品应能完全容纳人试验箱的工作空间内。

稳定状态时,流向试验样品的空气温度应处于试验严酷等级温度的土2 K范围内。工作空间的空气温度应按照4.5来测量。

注:当由于试验箱尺寸的原因,不能维持上述容差时,容差可以放宽，试验温度大于等于-25 C时为土3 K:试验

温度大于等于-65 C,但小于-25 C为士5K.当采用了上述容差,则应在试验报告中指明.”
6.3 热辐射

应尽可能限制试验样品通过热辐射方式传热的能力,这通常是采取遮挡试验样品的发热或冷却元件，以及确保构成试验籍内壁各部件的温度与调节空气的温度无明显差异的方式来实现。6.4带人工冷却装 的试验样品

相关规范应规定试验样品的冷却介质的特性。当冷却介质是空气时,应注意使空气不受到污染,并保持足够干燥,避免潮湿方面的问题。
6.5 安装

试验样品安装和连接时的热传导和其他相关特性应在有关规范中规定。当试验样品使用时是安装在特定的装置中时，在试验时应使用这些装置.
6.6尸酷等級
相美規范座規定由温度和式驗持綾吋同表示的試驗門酷等級，戸酷等級座:a) 从6.6.1和6.6.2所給的数値中迭取;
b)从已知的珎境得出,如果垓坏境給出星著差昇的数値;)引自其他知名的相美数据源(例如IEC 60721).
6.6.1温度
-65C·
-55C。
-50C。
-40C。
-33C。
-25c。
-20C
-10C
-5C·
+5C
6.6.2持縷肘 囘
· 2h
· 16h
·72h。
96h
当本試驗方法結合耐久性和可靠性相美的試驗使用吋,座注意相美柝准或規范給出的美于此奬試驗持綾吋同的特定建爻。
6.7預処理
預理按相美規范的要求迸行。
6.8朷姶橙測
試驗祥品的初始状恣可通辻目祝橙査和(或)按相美規范要求迸行功能栓渕荻得.

6.9条件试验

试验样品应按相关规范的详细规定在低温条件下暴露至规定的持续时间。

对于试验样品不能达到温度稳定的例外情况，试验持续时间是从试验样品通电时开始计算的。典型地,这种情况是由那些具有长时间工作循环的样品引起的。6.10 中间检测

相关规范可能要求在条件试验中间或条件试验结束时(试验样品仍在试验箱中)进行加负载和(或)测量。如果要求进行这种测量,相关规范应对这种测量的内容及时间间隔进行规定。对于这种测量,试验样品不应移出试验箱。

注:如果要求知道某种试验样品在规定的试验持续时间结束之前的性能,应该为每-不同的试验持续时间准备一

个单独批次的试验样品。每-批次的样品应单独进行恢复和最后检测..6.11 最后的线性升温

如果试验样品在试验期间保持在运行状态或负载条件下,应在温度上升前断电或卸掉负载,但试验Ae除外,因为该试验要求试验样品在整个恢复期间保持通电运行状态。

当规定的试验持续期结束时，试验样品应保持在试验箱内,然后将温度慢馒升至试验标准条件的温度偏差范围内。试验箱内的温度变化应不超过1 K/ min(不超过5 min时间的平均值)。

6.12 恢夐

武驗祥品虚在拭臉箱内経辻佚夏辻程或其他合透辻程.座采取台透的歩驤按要求去除水滴，井不攪審試驗祥品.

試驗禅品在株准坏境条件下迸行恢夏,恢夏吋同虚足使温度込到穏定,至少1 h.如果相美規苞要求,試驗祥品座在恢夏期同達綾通屯或加載并測暈.

如果,上述棕准条件不透合待橙渕的試驗祥品,相美規范可要求其他的恢夏条件.
6.13 最后檢測
应对试臉祥品逃行目視橙査以及相美規菟要求的性能橙酬。

7相美規苑座蛤出的信息

当相美規萢包含式驗A,低温吋,虚蛤出下列透用項目的錮芍·
a) 武驗美型,
b)預赴理↓
c)初始橙測↓
d)安裝和支擇的詳細措述↓
e) 試臉祥品(包含冷却系続〉在条件試驗朔同的状志,
f）严酷等級，即温度和試致持鍵吋伺
g) 温度変化速率,
h) 条件試臉期甸的測量和(或)加負載ii)恢夏(如果是非杯准条件〉，
j〉 最后检测;
k) 供需双方同意的対試臉程序的任何偏寓II〉不能茯得 低气流速度肘（見4. 2)的温度差昇.
8試驗搬告中虚始出的信息
試臉扱告中虚至少給出下列信息·
a)客戸(名称和地址〉·
b〉橙渕実驗室(名称和地址 ,如果有,胚包括合格人可的佯細信息)
c) 柆測日朔
d)试验类型(Ab,Ad,Ae)
e) 试验目的(开发、质量鉴定等)1
d）试验标准,版本(注 日期对本部分的引用)，
g)相关试验 室检测程序(代号和发行号);
h)试验样 品描述(工程图、照片、数量、结构、状态等);
i)试验箱 标识(制造商.型号、唯一性标识符等)
j) 试验箱的性能(设定温度点控制、气流等);
k)气流速度和方向(流向试验样品的空气流速和方向);
1)测量系统的不确定度;
m)校准日 期(最近- -次校准和下- -次应校准的日期):n)初始、 中间和最后检测;
o)要求的严酷等级(从试验 规范中);
p)试验的严酷 等级(测量点、数据等);
q)试验样品的性能(功能检测的结果等);
r)试验 期间的观察结果及采取的措施;
s)试验 总结;
t)  分发。